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Die Diagnose «Electrical Overstress» (EOS) wird oft und nicht ganz zu Unrecht als eine Umschreibung für eine «Kapitulation» der Ausfallanalyse verstanden. Die Ursachen für EOS sind extrem vielseitig und reichen von ESD über EMV bis hin zu problematischen Schaltungsauslegungen, meist im Zusammenhang mit induktiven Lasten und/oder Schaltvorgängen im Hochlastbereich oder an den Schnittstellen zwischen Mikro- und Leistungselektronik.

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